武漢日本三豐顯微鏡

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FS-110
378 系列 — 金相顯微鏡
FS-110 是為了檢測如 IC 芯片和攝像頭零件等微型元件而設計的。此光學系統的特點是物鏡的工作距離超長，目鏡視場寬以及具有獨立的側面色差校正系統
特點
• 完整的 FS-110 系統可由不同部件組成以滿足不同的需求。
• 有無透射照明都可工作。
• 物鏡的超長工作距離使得操作變得更加容易。
• 亮／暗視場照明之間的轉換容易。
• 選件的使用可擴大適用範圍